qvd
1.根据电阻率查表得到掺杂浓度NA=2X10^16 CM^(-3)
2.根据掺杂浓度查表得到半导体的功函数Ws=5.00eV
3.为了得到肖特基结,要求P型半导体满足Wm<Ws,所以应选择Al,作为金属构成肖特基结。
4.金属一侧的势垒高度q$ps=X+Eg-Wm=4.05+1.124-4.20=0.974eV
5.半导体一侧的势垒高度qVD=|Wm-Ws|=|4.20-5.00|=0.80eV
1.根据电阻率查表得到掺杂浓度NA=2X10^16 CM^(-3)
2.根据掺杂浓度查表得到半导体的功函数Ws=5.00eV
3.为了得到肖特基结,要求P型半导体满足Wm<Ws,所以应选择Al,作为金属构成肖特基结。
4.金属一侧的势垒高度q$ps=X+Eg-Wm=4.05+1.124-4.20=0.974eV
5.半导体一侧的势垒高度qVD=|Wm-Ws|=|4.20-5.00|=0.80eV